パーク・システムズ・ジャパン株式会社（機器展示）

パーク・システムズ・ジャパン株式会社
～革新的技術と自動化ソフトウェアで最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡 (AFM)～

1997年に設立されたパーク・システムズは、革新的技術と自動化ソフトウェアで最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡 (AFM)を開発、生産、販売するナノ計測機器専門企業です。持続的な成長と製品革新を続けて25年以上が経ち、Parkは業界での原子間力顕微鏡のビジネスにおいて最も長い歴史を誇ります。 世界的水準の技術力を保有している急成長AFM企業として、革新技術の開発、および優秀な製品開発に精進し、ナノテクノロジーの発展に貢献してまいります。

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Pinpoint™モードでナノ機械特性の計測	PinPoint™モードは、Park Systems AFM独自の モードであり、高速フォースマッピングを介して正確で定量的なナノメカニカルイメージを提供します。
Park NanoAcademy.jpパーク・システムズ・ジャパンのウェビナー	Park NanoAcademy.jpはパーク社が提供するAFMの基礎から応用までを紹介するウェビナーです。AFMを初めて使用する学生さんから新しい情報を求めている熟練研究者の方まで、パークがご提供する最新AFMテクノロジーを解説しています。
アンケートに答えてエコバックをプレゼント	簡単なアンケートにお答えいただくだけでパーク社のロゴ入りエコバックを差し上げます。 ラボ内の移動、ちょっとした買い物のお供にご使用いただけます。

キーワード

AFM、原子間力顕微鏡、ノンコンタクト、表面粗さ、トポグラフィー、ナノテクノロジー、
トライポロジー、表面計測、電気特性、粘弾性

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