高分子のための機器分析セミナー~基礎から材料評価・故障解析まで~【12/22(金)開催@大田区産業プラザ 小展示ホール】

<趣旨>
高分子に関する機器分析装置の進歩に伴い、研究者や技術者の測定原理に対する知識や
解析力が低下している現状があります。また、最先端分析手法や機器についても、
学術講演会等で知識を習得する機会が少ないのが状況です。高分子学会関東支部会では、
これらの問題の解決を目的として、高分子研究のための機器分析に関するセミナーを
開催する企画を致しました。

主催:高分子学会 関東支部
日時:12月22日(金)10:00~17:30
会場:大田区産業プラザ 小展示ホール
(〒144-8621 東京都大田区蒲田5-13-14)
交通:京急蒲田駅より徒歩3分

講演プログラム:
1.基礎講座

10:00 高分子と機器分析
東京大学大院新領域創成科学研究科 伊藤 耕三

10:30 分子構造の解析
東京工業大学大学院理工学研究科 石曽根 隆

11:00 高次構造の解析
首都大学東京大学院都市環境科学研究科 山登 正文

11:30 物理特性・化学特性の評価
東京工業大学物質理工学院 安藤 慎治

12:00~12:50  昼休憩

2.事例紹介
(高分子のキャラクタリゼーション)

12:50 光を用いた高分子の分析事例のご紹介
(株)堀場製作所 森 哲也

13:05 SEC-MALS分析の基礎
昭光サイエンス(株) 鶴田 英一

13:20 赤外・ラマンによる高分子分析
日本分光(株) 赤尾 賢一

13:35 光散乱法を用いた粒子径・ゼータ電位・分子量測定と最新トピックス
大塚電子(株) 田中 克治

13:50  MALDI質量分析による高分子分析
ブルカー・ダルトニクス(株) 工藤 寿治

14:05  GPC/SECカラムを使用しない分離手法、FFFによる高分子の評価事例
旭テクネイオン(株) 郷原 勇甚

14:20~14:25 小休憩

(高分子の表面・界面・構造解析)
14:25 高分子界面における最新の分析解析技術
(株)日産アーク 児嶋 伸夫

14:40 原子間力顕微鏡を用いた高分子材料解析
~高分解能観察から多彩なメカニクス計測まで~
オックスフォード・インストゥルメンツ(株) 谷口 幸範

14:55 AFMによるナノメカニクス評価
(株)日立ハイテクノロジーズ 水口 勝利

15:10 SPMによる表面・界面の解析事例
(株)島津製作所 藤 里砂

15:25 ナノフォトン社製ラマン顕微鏡RAMANforceの
ラマンイメージングによる高分子材料へのアプローチ
ナノフォトン(株) 能登 環奈

15:40 中性子散乱による材料構造解析~J-PARC中性子利用のお誘い~
茨城県 峯村 哲郎

15:55~16:00 小休憩

(高分子物性・材料機能の評価)
16:00 熱劣化の際のラジカル挙動-ESRによるin-situ評価
日本電子(株) 中井 由実

16:15 最良の熱分析結果を得るために~基礎とテクニック~
ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン(株) 麻見 安雄

16:30 高分子特性解析における熱分析と最新の解析技法(DSC,ラマン分光同時測定)
(株)パーキンエルマジャパン 鈴木 俊之

16:45 高分子の劣化評価における熱分析
ネッチ・ジャパン(株) 塚本 理

17:00 粘弾性測定による高分子材料の評価事例
(株)アントンパール・ジャパン 宮本 圭介

17:15 高速AFMによる液中の動的観察
(株)生体分子計測研究所 小谷 則遠

17:30 終了

ポスター会場:出展者展示に依り、最新の機器分析の情報が入手できます。

<出展者> 21機関(五十音順)

●旭テクネイオン(株)
●(株)アントンパール・ジャパン
●茨城県
●大塚電子(株)
●オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
●(株)島津製作所
●昭光サイエンス(株)
●(株)生体分子計測研究所
●綜研化学(株)
●ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン(株)
●ナノフォトン(株)
●(株)日産アーク
●日本電子(株)
●日本分光(株)
●ネッチ・ジャパン(株)
●(株)パーキンエルマジャパン
●(株)日立ハイテクノロジーズ
●ブルカー・ダルトニクス(株)
●(株)堀場製作所
●ライカマイクロシステムズ(株)
●(株)リガク

参加費:無料(講演資料なし)
1,000円(講演資料を含む)

問合わせ先: 公益社団法人高分子学会 関東支部
e-mail: kantoshibu@spsj.or.jp