＜趣旨＞
高分子に関する機器分析装置の進歩に伴い、研究者や技術者の測定原理に対する知識や
解析力が低下している現状があります。また、最先端分析手法や機器についても、
学術講演会等で知識を習得する機会が少ないのが状況です。高分子学会関東支部会では、
これらの問題の解決を目的として、高分子研究のための機器分析に関するセミナーを
開催する企画を致しました。

主催：高分子学会　関東支部
日時：１２月２２日（金）10:00～17:30
会場：大田区産業プラザ　小展示ホール
（〒144-0035 　東京都大田区南蒲田1-20-20 ）
交通：京急蒲田駅より徒歩３分

講演プログラム：
１．基礎講座

10:00　高分子と機器分析
東京大学大院新領域創成科学研究科　伊藤 耕三

10:30　分子構造の解析
東京工業大学大学院理工学研究科　石曽根 隆

11:00　高次構造の解析
首都大学東京大学院都市環境科学研究科　山登 正文

11:30　物理特性・化学特性の評価
東京工業大学物質理工学院　安藤 慎治

12:00～12:50　　昼休憩

２．事例紹介
（高分子のキャラクタリゼーション）

12:50　光を用いた高分子の分析事例のご紹介
（株）堀場製作所　森 哲也

13:05　SEC-MALS分析の基礎
昭光サイエンス（株）　鶴田 英一

13:20　赤外・ラマンによる高分子分析
日本分光（株）　赤尾 賢一

13:35　光散乱法を用いた粒子径・ゼータ電位・分子量測定と最新トピックス
大塚電子（株）　田中 克治

13:50　 MALDI質量分析による高分子分析
ブルカー・ダルトニクス（株）　工藤　寿治

14:05　 GPC/SECカラムを使用しない分離手法、ＦＦＦによる高分子の評価事例
旭テクネイオン（株）　郷原　勇甚

14:20～14:25　小休憩

（高分子の表面・界面・構造解析）
14:25　高分子界面における最新の分析解析技術
（株）日産アーク　児嶋 伸夫

14:40　原子間力顕微鏡を用いた高分子材料解析
～高分解能観察から多彩なメカニクス計測まで～
オックスフォード・インストゥルメンツ（株）　谷口 幸範

14:55　AFMによるナノメカニクス評価
（株）日立ハイテクノロジーズ　水口 勝利

15:10　SPMによる表面・界面の解析事例
（株）島津製作所　藤 里砂

15:25　ナノフォトン社製ラマン顕微鏡RAMANforceの
ラマンイメージングによる高分子材料へのアプローチ
ナノフォトン（株）　能登 環奈

15:40　中性子散乱による材料構造解析～J-PARC中性子利用のお誘い～
茨城県　峯村　哲郎

15:55～16:00　小休憩

（高分子物性・材料機能の評価）
16:00　熱劣化の際のラジカル挙動-ESRによるin-situ評価
日本電子（株）　中井 由実

16:15　最良の熱分析結果を得るために～基礎とテクニック～
ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン（株）　麻見 安雄

16:30　高分子特性解析における熱分析と最新の解析技法（DSC,ラマン分光同時測定）
（株）パーキンエルマジャパン　鈴木 俊之

16:45　高分子の劣化評価における熱分析
ネッチ・ジャパン（株）　塚本 理

17:00　粘弾性測定による高分子材料の評価事例
（株）アントンパール･ジャパン　宮本 圭介

17:15　高速AFMによる液中の動的観察
（株）生体分子計測研究所　小谷 則遠

17:30　終了

ポスター会場：出展者展示に依り、最新の機器分析の情報が入手できます。

＜出展者＞　２１機関（五十音順）

●旭テクネイオン（株）
●（株）アントンパール･ジャパン
●茨城県
●大塚電子（株）
●オックスフォード・インストゥルメンツ（株）
●（株）島津製作所
●昭光サイエンス（株）
●（株）生体分子計測研究所
●綜研化学（株）
●ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン（株）
●ナノフォトン（株）
●（株）日産アーク
●日本電子（株）
●日本分光（株）
●ネッチ・ジャパン（株）
●（株）パーキンエルマジャパン
●（株）日立ハイテクノロジーズ
●ブルカー・ダルトニクス（株）
●（株）堀場製作所
●ライカマイクロシステムズ（株）
●（株）リガク

参加費：無料（講演資料なし）
1,000円（講演資料を含む）

問合わせ先:　公益社団法人高分子学会　関東支部
e-mail: kantoshibu@spsj.or.jp