高分子のためのキャラクタリゼーションセミナー

主題＝基礎から成形加工試作・材料評価・故障解析まで。

＜趣旨＞高分子は、生活用品やヘルスケアからエレクトロニクスまで非常に幅広く使用される材料です。一方で高分子に関する機器分析装置の進歩にともない、研究者や技術者の測定原理に対する知識や解析力が低下している現状があります。

本セミナーでは、研究者や技術者の機器分析や試作評価の知識や解析力のスキルアップを図る目的で、基礎から応用までの幅広い実学体得の場として2017年から毎年開催しており、今回が第4回の開催となります。今年度は参加者の新型コロナウイルスへの感染防止対策も考え、オンライン形式（Webex使用）での開催といたします。

著名な講師陣による基礎講座と機器や受託解析企業による技術プレゼンにより、基礎の学習機会とアプリケーションとしての実用情報までの学習機会を提供します。　

主　催　高分子学会関東支部

日　時　2020年12月11日（金）9:30-16:40

会　場　オンライン開催

申し込み     https://peatix.com/event/1656529/

（パスワードはspsjを入力してください）

プログラム

12月11日（金）

【メイン会場】

9:30 ～  9:35	開催の挨拶			（東京大学）伊藤 耕三
9:35 ～ 10:35	高分子の分子特性解析の過去・現在・未来			(大阪大学) 佐藤 尚弘
10:35 ～ 11:20	分子構造の解析〜高分子構造解析のポイント				(東京工業大学) 石曽根 隆
11:20 ～ 11:55 (各社10分)	粘弾性測定装置による機械特性評価 （アントンパール・ジャパン）篠崎 有一
	高分子-分散粒子界面の相互作用解析およびナノ構造解析 （アントンパール・ジャパン）高木 則一
	合成高分子にも生体高分子にも使われる質量分析 (ブルカージャパン) 工藤 寿治
休憩
13:00 ～ 13:45	高分子の高次構造解析			(東京都立大学) 山登 正文
13:45 ～ 14:35 (各社10分)	FT-IR イメージングシステムと活用事例の紹介 ～異物からマイクロプラ スチックまで～  　　　　　　　　　　　　(ブルカージャパン) 星　純一
	高分子研究におけるAFM 技術の多様性と可能性  (ブルカージャパン) 横川 雅俊
	ここまでできるようになった高分子材料のX線構造解析 (リガク) 尾本 和樹
	熱分析装置（温度変調 DSC＆TMA,UV 照射,湿度,高温高圧 TGA など）の最新技術の紹介 (ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン) 大塚 康城
休憩
14:45 ～ 15:30	物理特性・化学特性の評価	(東京工業大学) 安藤 慎治・石毛 亮平
15:30 ～ 16:10	環境に配慮した高分子材料分析システム		(日本ウォーターズ) 國井 麻衣
(各社10分)	高分子の極初期の酸化劣化検出について		(東北電子産業) 佐藤　哲
	光散乱法を用いたナノ粒子及び高分子評価の最新トピックス (大塚電子) 中道 栄明
16:10 ～ 16:15	閉会の挨拶		（東京大学）伊藤 耕三

 

  【展示ホール】

11:15 ～ 12:15	Room A	アントンパール・ジャパン
	Room D	ブルカージャパン
13:40 ～ 14:40	Room A	アントンパール・ジャパン
	Room B	リガク
	Room C	ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン
	Room D	ブルカージャパン
15:25 ～ 16:25	Room A	日本ウォーターズ
	Room B	東北電子産業
	Room C	大塚電子
	Room D	ブルカージャパン

 

【展示企業一覧】

大塚電子株式会社

アントンパール・ジャパン株式会社

東北電子産業株式会社

ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社

日本ウォーターズパン株式会社

ブルカージャパン株式会社

株式会社リガク

 

参加要領

１）定員　350名　２）参加費　無料（要旨集なし）、3,000円（要旨集込み・税込）

※参加費は1,500円（要旨集込み・税込み）に変更となりました。

３）申込方法　ホームページhttps://spsj.or.jp/branch/kanto/よりご確認ください。