＜趣旨＞
高分子に関する機器分析装置の進歩に伴い、研究者や技術者の測定原理に対する知識や
解析力が低下している現状があります。また、最先端分析手法や機器についても、
学術講演会等で知識を習得する機会が少ないのが状況です。高分子学会関東支部会では、
これらの問題の解決を目的として、高分子研究のための機器分析に関するセミナーを
開催する企画を致しました。
主催：高分子学会 関東支部
日時：１２月２２日（金）10:00～17:30
会場：大田区産業プラザ 小展示ホール
（〒144-0035 東京都大田区南蒲田1-20-20 ）
交通：京急蒲田駅より徒歩３分
講演プログラム：
１．基礎講座
10:00 高分子と機器分析
東京大学大院新領域創成科学研究科 伊藤 耕三
10:30 分子構造の解析
東京工業大学大学院理工学研究科 石曽根 隆
11:00 高次構造の解析
首都大学東京大学院都市環境科学研究科 山登 正文
11:30 物理特性・化学特性の評価
東京工業大学物質理工学院 安藤 慎治
12:00～12:50 昼休憩
２．事例紹介
（高分子のキャラクタリゼーション）
12:50 光を用いた高分子の分析事例のご紹介
（株）堀場製作所 森 哲也
13:05 SEC-MALS分析の基礎
昭光サイエンス（株） 鶴田 英一
13:20 赤外・ラマンによる高分子分析
日本分光（株） 赤尾 賢一
13:35 光散乱法を用いた粒子径・ゼータ電位・分子量測定と最新トピックス
大塚電子（株） 田中 克治
13:50 MALDI質量分析による高分子分析
ブルカー・ダルトニクス（株） 工藤 寿治
14:05 GPC/SECカラムを使用しない分離手法、ＦＦＦによる高分子の評価事例
旭テクネイオン（株） 郷原 勇甚
14:20～14:25 小休憩
（高分子の表面・界面・構造解析）
14:25 高分子界面における最新の分析解析技術
（株）日産アーク 児嶋 伸夫
14:40 原子間力顕微鏡を用いた高分子材料解析
～高分解能観察から多彩なメカニクス計測まで～
オックスフォード・インストゥルメンツ（株） 谷口 幸範
14:55 AFMによるナノメカニクス評価
（株）日立ハイテクノロジーズ 水口 勝利
15:10 SPMによる表面・界面の解析事例
（株）島津製作所 藤 里砂
15:25 ナノフォトン社製ラマン顕微鏡RAMANforceの
ラマンイメージングによる高分子材料へのアプローチ
ナノフォトン（株） 能登 環奈
15:40 中性子散乱による材料構造解析～J-PARC中性子利用のお誘い～
茨城県 峯村 哲郎
15:55～16:00 小休憩
（高分子物性・材料機能の評価）
16:00 熱劣化の際のラジカル挙動-ESRによるin-situ評価
日本電子（株） 中井 由実
16:15 最良の熱分析結果を得るために～基礎とテクニック～
ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン（株） 麻見 安雄
16:30 高分子特性解析における熱分析と最新の解析技法（DSC,ラマン分光同時測定）
（株）パーキンエルマジャパン 鈴木 俊之
16:45 高分子の劣化評価における熱分析
ネッチ・ジャパン（株） 塚本 理
17:00 粘弾性測定による高分子材料の評価事例
（株）アントンパール･ジャパン 宮本 圭介
17:15 高速AFMによる液中の動的観察
（株）生体分子計測研究所 小谷 則遠
17:30 終了
ポスター会場：出展者展示に依り、最新の機器分析の情報が入手できます。
＜出展者＞ ２１機関（五十音順）
●旭テクネイオン（株）
●（株）アントンパール･ジャパン
●茨城県
●大塚電子（株）
●オックスフォード・インストゥルメンツ（株）
●（株）島津製作所
●昭光サイエンス（株）
●（株）生体分子計測研究所
●綜研化学（株）
●ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン（株）
●ナノフォトン（株）
●（株）日産アーク
●日本電子（株）
●日本分光（株）
●ネッチ・ジャパン（株）
●（株）パーキンエルマジャパン
●（株）日立ハイテクノロジーズ
●ブルカー・ダルトニクス（株）
●（株）堀場製作所
●ライカマイクロシステムズ（株）
●（株）リガク
参加費：無料（講演資料なし）
1,000円（講演資料を含む）
問合わせ先: 公益社団法人高分子学会 関東支部
e-mail: kantoshibu@spsj.or.jp
